點缺陷半徑變化對光子晶體直接耦合結構THz波調制器性能的影響
作者：宋麗軍 陳鶴鳴 趙新彥 汪靜麗 南京郵電大學光通信研究所 江蘇南京210003
摘要：點缺陷構成的微腔對THz波調制器的性能起著決定性的作用，而在實際制作加工過程中，由于工藝的原因，光子晶體的結構參量會產生偏差，難以制備出孔徑毫無偏差的光子晶體，且介質柱的放置位置不能達到完全精確，因此光子晶體器件的性能也因此會受到一定程度的影響。文中重點討論了點缺陷介質柱的半徑變化對直接耦合結構的THz波調制器性能的影響，為光子晶體調制器的實際制作和相應的誤差分析提供了理論幫助。
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電子元器件應用雜志
電子元器件應用雜志， 月刊，本刊重視學術導向，堅持科學性、學術性、先進性、創(chuàng)新性，刊載內容涉及的欄目：電子元件、器件、組件、集成電路、以及模塊等。于1999年經(jīng)新聞總署批準的正規(guī)刊物。
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