《Microelectronics Journal》雜志是一本專(zhuān)注于工程技術(shù)領(lǐng)域的高質(zhì)量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Microelectronics Journal》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發(fā)文量：《Microelectronics Journal》雜志年發(fā)文量為：293篇。年發(fā)文量較大的期刊，相對(duì)而言錄用率會(huì)高一些。

質(zhì)量與創(chuàng)新性：論文的科學(xué)性、嚴(yán)謹(jǐn)性、數(shù)據(jù)可靠性以及創(chuàng)新性是關(guān)鍵。

期刊分區(qū)：《Microelectronics Journal》雜志在中科院的分區(qū)為3區(qū)，而在JCR的分區(qū)為Q3。

論文質(zhì)量：包括研究設(shè)計(jì)的合理性、數(shù)據(jù)的可靠性、分析方法的科學(xué)性等。

影響力與排名：《Microelectronics Journal》雜志IF影響因子為：1.9。高影響力的期刊通常對(duì)論文質(zhì)量要求更高，錄用率相對(duì)較低。

審稿流程：嚴(yán)格的多輪審稿流程會(huì)篩選掉部分稿件，導(dǎo)致錄用率下降。

投稿數(shù)量：在特定時(shí)期內(nèi)，若大量研究者集中向某期刊投稿，會(huì)導(dǎo)致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應(yīng)根據(jù)自身研究特點(diǎn)選擇合適的期刊，并確保稿件質(zhì)量以提高錄用機(jī)會(huì)，投稿前務(wù)必仔細(xì)閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Microelectronics Journal》雜志簡(jiǎn)介

中文簡(jiǎn)稱(chēng)：微電子雜志
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)稱(chēng)：MICROELECTRON J
出版商：Elsevier
出版周期：Monthly
出版年份：1967年
出版地區(qū)：ENGLAND
ISSN：0026-2692
ESSN：1879-2391
研究方向：工程技術(shù) - 工程：電子與電氣

《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來(lái)，是一個(gè)傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國(guó)際論壇?！段㈦娮訉W(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時(shí)效性。因此，該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。

《微電子學(xué)雜志》誠(chéng)邀撰寫(xiě)描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評(píng)論/調(diào)查論文也將予以考慮。《微電子學(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于：模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計(jì)方法；邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級(jí)綜合；測(cè)試、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、內(nèi)置自測(cè)試；面積、功率和熱分析與設(shè)計(jì)；混合域仿真與設(shè)計(jì)；嵌入式系統(tǒng)；非馮諾依曼計(jì)算及相關(guān)技術(shù)和電路；高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計(jì)和測(cè)試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計(jì)和測(cè)試；3-D 集成設(shè)計(jì)和分析；新興器件技術(shù)和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應(yīng)用方面，例如信號(hào)和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執(zhí)行器（包括傳感器網(wǎng)絡(luò)）、可靠性和質(zhì)量問(wèn)題以及經(jīng)濟(jì)模型。

在中科院分區(qū)表中，大類(lèi)學(xué)科為工程技術(shù)3區(qū)， 小類(lèi)學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣3區(qū)。

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