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《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志目前處于幾區(qū)?

來源:優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:50:47 412人看過

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志在中科院分區(qū)中的情況如下:大類學(xué)科:工程技術(shù), 分區(qū):2區(qū); 小類學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計(jì)算機(jī):硬件, 分區(qū):2區(qū)。

中科院分區(qū)決定了SCI期刊在學(xué)術(shù)界的地位和影響力,對(duì)科研人員和學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)具有重要的參考價(jià)值,具體如下:

對(duì)SCI期刊的評(píng)價(jià):中科院分區(qū)通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級(jí),為科研人員和學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)提供了一個(gè)評(píng)估SCI期刊學(xué)術(shù)影響力的重要依據(jù)。分區(qū)越高,說明該期刊在學(xué)科內(nèi)的學(xué)術(shù)影響力越大,發(fā)表的文章質(zhì)量越高。

對(duì)科研人員的成果評(píng)估:科研人員發(fā)表的論文所在的中科院分區(qū),可以作為評(píng)估其研究成果質(zhì)量的一個(gè)指標(biāo)。

對(duì)科研資源的分配:中科院分區(qū)在科研資源分配方面也起到重要作用??蒲袡C(jī)構(gòu)在制定科研政策、分配科研資源時(shí),會(huì)參考中科院分區(qū)。

對(duì)科研人員投稿的指導(dǎo):中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了參考??蒲腥藛T在選擇投稿期刊時(shí),會(huì)參考中科院分區(qū),以提高論文被接受的可能性,并增加研究成果的影響力。

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志是一本專注于計(jì)算機(jī):硬件領(lǐng)域的國(guó)際期刊,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.?出版,創(chuàng)刊于1993年,出版周期為Bimonthly。

《IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報(bào)》是一份月刊,由 IEEE 電路與系統(tǒng)學(xué)會(huì)、IEEE 計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)和 IEEE 固態(tài)電路學(xué)會(huì)共同贊助出版。

使用 VLSI/ULSI 技術(shù)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)微電子系統(tǒng)需要系統(tǒng)架構(gòu)、邏輯和電路設(shè)計(jì)、芯片和晶圓制造、封裝、測(cè)試和系統(tǒng)應(yīng)用等領(lǐng)域的科學(xué)家和工程師密切合作。必須在所有抽象級(jí)別(包括系統(tǒng)、寄存器傳輸、邏輯、電路、晶體管和工藝級(jí)別)生成規(guī)范、設(shè)計(jì)和驗(yàn)證。

為了通過一個(gè)共同的論壇解決這一關(guān)鍵領(lǐng)域,IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報(bào)應(yīng)運(yùn)而生。由國(guó)際專家組成的編輯委員會(huì)誠(chéng)邀提交原創(chuàng)論文,這些論文強(qiáng)調(diào)并贊揚(yáng)微電子系統(tǒng)的新系統(tǒng)集成方面,包括系統(tǒng)設(shè)計(jì)和分區(qū)、邏輯和內(nèi)存設(shè)計(jì)、數(shù)字和模擬電路設(shè)計(jì)、布局綜合、CAD 工具、芯片和晶圓制造、測(cè)試和封裝以及系統(tǒng)級(jí)鑒定之間的相互作用。因此,這些交易的報(bào)道將集中在 VLSI/ULSI 微電子系統(tǒng)集成上。

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志學(xué)術(shù)影響力具體如下:

在學(xué)術(shù)影響力方面,IF影響因子為2.8,顯示出其在計(jì)算機(jī):硬件學(xué)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。

JCR分區(qū):Q2

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū),在學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中為Q2,排名:23 / 59,百分位:61.9%;ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2,排名:151 / 352,百分位:57.2%;

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū),在學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中為Q2,排名:26 / 59,百分位:56.78%;ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2,排名:149 / 354,百分位:58.05%;

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志的審稿周期預(yù)計(jì)為:平均審稿速度 一般,3-6周 ,投稿需滿足English撰寫,期刊注重原創(chuàng)性與學(xué)術(shù)嚴(yán)謹(jǐn)性,明確拒絕抄襲或一稿多投,Gold OA占比:7.13%,這使得更多的研究人員能夠免費(fèi)獲取和引用這些高質(zhì)量的研究成果。

該雜志其他關(guān)鍵數(shù)據(jù):

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版):6.4,進(jìn)一步證明了其學(xué)術(shù)貢獻(xiàn)和影響力。

H指數(shù):95,年發(fā)文量:241篇

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
6.4 0.937 1.516
學(xué)科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 195 / 797

75%

大類:Engineering 小類:Hardware and Architecture Q2 51 / 177

71%

大類:Engineering 小類:Software Q2 124 / 407

69%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。

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