《Ieee Design & Test》雜志的收稿范圍和要求是什么？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:08:10 380人看過
《Ieee Design & Test》雜志收稿范圍涵蓋工程技術(shù)全領(lǐng)域，此刊是該細(xì)分領(lǐng)域中屬于非常不錯(cuò)的SCI期刊，在行業(yè)細(xì)分領(lǐng)域中學(xué)術(shù)影響力較大，專業(yè)度認(rèn)可很高，所以對(duì)原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性較高，如果您的文章質(zhì)量很高，可以嘗試。
平均審稿速度 ，影響因子指數(shù)1.9。
該期刊近期沒有被列入國際期刊預(yù)警名單，廣大學(xué)者值得一試。
具體收稿要求需聯(lián)系雜志社或者咨詢本站客服，在線客服團(tuán)隊(duì)會(huì)及時(shí)為您答疑解惑，提供針對(duì)性的建議和解決方案。
出版商聯(lián)系方式：445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
其他數(shù)據(jù)
| 是否OA開放訪問： | h-index： | 年文章數(shù)： |
| 未開放 | 72 | 59 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影響因子（數(shù)據(jù)來源于搜索引擎）: | 開源占比（OA被引用占比）： |
| 6.08% | 1.9 | 0.06... |
| 研究類文章占比：文章 ÷（文章 + 綜述） | 期刊收錄： | 中科院《國際期刊預(yù)警名單（試行）》名單： |
| 100.00% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子)：
歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量：
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù)：
歷年自引數(shù)據(jù)：
發(fā)文統(tǒng)計(jì)
近年引用統(tǒng)計(jì)：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 27 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 21 |
| NATURE | 20 |
| IEEE T VLSI SYST | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 17 |
| PHYS REV LETT | 17 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| NAT COMMUN | 16 |
| P IEEE | 14 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 11 |
近年被引用統(tǒng)計(jì)：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE ACCESS | 57 |
| IEEE T COMPUT AID D | 52 |
| IEEE T VLSI SYST | 38 |
| INTEGRATION | 35 |
| J ELECTRON TEST | 29 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 25 |
| IEEE T COMPUT | 21 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
| MICROPROCESS MICROSY | 15 |
近年文章引用統(tǒng)計(jì)：
| 文章名稱 | 數(shù)量 |
| Edge Intelligence-On the Challen... | 8 |
| ZeNA: Zero-Aware Neural Network ... | 7 |
| Context-Aware Intelligence in Re... | 7 |
| Hierarchical Electric Vehicle Ch... | 7 |
| A Survey on Security Threats and... | 6 |
| Survey of Automotive Controller ... | 5 |
| Voltage-Driven Building Block fo... | 5 |
| Quantum Computing Circuits and D... | 5 |
| Design-for-Testability of On-Chi... | 5 |
| CPU-FPGA Coscheduling for Big Da... | 4 |
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